High Resolution XRD(HRXRD) | 고분해능 X선 회절기
| Laboratory/Field | |||
|---|---|---|---|
| Model | D8 DISCOVERY | ||
| Maker | Bruker | ||
| Technician | Gyeong Ae Lee | ||
| Contact | 052-217-4163 / kalee@unist.ac.kr | ||
| Status for Reservation | 가능 | ||
| Reservation Unit | 0.5hr | Maximum Time (per day) | 2hr |
| Open(~ago) | 5일전 | Cancel (~ago) | 2시간전 |
| Equipment location | 울산광역시 울주군 언양읍 유니스트길 50 울산과학기술원 102동 B101-2호 | ||
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Description
○ 응용: 박막 결정구조 분석
○ 측정범위: 5~110 도
○ 샘플량: 박막 및 호일 1um 이하
○ 샘플준비
- 가로세로 1cm ~ 2cm 크기로 준비(윗면과 바닥 모두 이물질 없는 깨끗한 상태로 준비)○ Measurement range: 5~120 degrees
○ Specimen Preparation
- Powder: 1g or more(Particle size < 40 micron)
- Bulk: 1cm x 1cm
- Thin film: 1.5cm x 1.5cm
○ 측정범위: 5~120 도
○ 샘플 준비
- 분말: 1g 이상(입자크기 < 40 micron, 밀가루 정도)
- 벌크: 1 cm x 1 cm
- 박막: 1.5 cm x 1.5 cm -
Specifications
○ Measurement range: 5~120 degrees
○ Specimen Preparation
- Powder: 1g or more(Particle size < 40 micron)
- Bulk: 1cm x 1cm
- Thin film: 1.5cm x 1.5cm
○ 측정범위: 5~120 도
○ 샘플 준비
- 분말: 1g 이상(입자크기 < 40 micron, 밀가루 정도)
- 벌크: 1 cm x 1 cm
- 박막: 1.5 cm x 1.5 cm
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Applications
• Determination of lattice mismatch between film & substrate
• Determination of dislocation density and characterization of the film
• Measurement of super-lattices in multilayered epitaxial structures
• Determination of the thickness, roughness, and density of the film (XRR)