보유장비

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4point-probe | 표면 저항 측정기 / CMT2000N

이송희 052-217-4190 lychle2@unist.ac.kr
Equipment location : 108동 B101호 (Bldg.108, Room B101)

AFM | 원자힘 현미경 / Park NX20

강해라 052-217-4167 haera@unist.ac.kr
Equipment location : UNIST 108동 B101호

Cryogenic Probe Station | 극저온탐침측정기 / CRX-4K

황은정 052-217-4192 hej9204@unist.ac.kr
Equipment location : 108동 B104호(Bldg.108, Room B104)

Ellipsometer | 박막 두께 측정기 / Elli-SE-UaM8

김보성 052-217-4191 mbosing@unist.ac.kr
Equipment location : 108동 B101호 (Bldg. 108, Room B101)

Inspection Microscope | 반도체 검사용 현미경 / DM 4000M

김민재 052-217-4064 mjkim@unist.ac.kr
Equipment location : 108동 B101호 (Bldg. 108, Room B101)

Measurement Microscope | 측정용 현미경 / Axio Scope A1

김민재 052-217-4064 mjkim@unist.ac.kr
Equipment location : 108동 B101호 (Bldg. 108, Room B101)

Normal SEM | 주사전자현미경 / S-3400N(Type Ⅱ)

이선진 052-217-4193 sunee6210@unist.ac.kr
Equipment location : 108동 B101호 (Bldg. 108, Room B101)

Optical Surface Profiler (비접촉식 표면 및 단차 측정기기) | Optical Surface Profiler (비접촉식 표면 및 단차 측정기기) / MicroXAM-800

이선진 052-217-4193 sunee6210@unist.ac.kr
Equipment location : 108동 B101호 (Bldg. 108, Room B101)

Surface profiler | 박막 단차 측정기 / P6

이선진 052-217-4193 sunee6210@unist.ac.kr
Equipment location : 108동 B101호 (Bldg. 108, Room B101)

Thickness measurement | 박막 두께 측정기 / ST4000-DLX

이송희 052-217-4190 lychle2@unist.ac.kr
Equipment location : 108동 B101호 (Bldg. 108, Room B101)