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Multimode V_AFM | 원자현미경

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Multimode V_AFM
보유장비 관련 정보
연구실/분야
  • Materials Characterization Lab
  • Surface Analysis
모델명 MultiMode V
제조사 Veeco
담당자 임동주
연락처 052-217-4032 / djlim@unist.ac.kr
예약 가능여부 가능
예약단위 0.5hr 1일최대예약시간 2hr
예약Open(~일 전) 5일전 예약취소불가(~일 전) 2시간전
장비위치 울산광역시 울주군 언양읍 유니스트길 50, 102동 B113

  • Description

    <의뢰절차> 샘플보낼주소 : 울산시 울주군 언양읍 유니스트길 50 102동 203호
    의뢰는 dimension AFM 장비로 하기 바랍니다.
    https://ucrf.unist.ac.kr/kor/equipment-tracking/equipments/?stext=afm&cate1=&no=28031
    샘플 보낼주소 : 울산광역시 울주군 언양읍 유니스트길 50, 102동 203호

    AFM or SPM is a branch of microscopy that forms images of surfaces using a physical probe that scans the specimen. An image of the surface is obtained by mechanically moving the probe in a raster scan of the specimen line by line and recording the probe-surface interaction as a function of position.

  • Specifications

    ○ X-Y scan range 125μm x 125μm typical, 5μm minimum

    ○ Sample size 15mm diameter, 15mm thick

    ○ Vertical Noise Floor : 0.03nm

    ○ Microscope optics

    ● 5-megapixel digital camera;

    ● 400μm to 500μm viewing area;

  • Applications

    • Surface morphology

    • Conductive AFM

    • Nano indentor

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