보유장비 리스트

이름	모델	장비이용의뢰서/예약하기
4point-probe | 표면 저항 측정기 / CMT2000N 이선진 052-217-4193 sunee6210@unist.ac.kr Equipment location : 108동 B101호 (Bldg.108, Room B101)	분석의뢰 예약하기
Atomic Force Microscopy | 원자힘 현미경 / Park NX20 강해라 052-217-4167 haera@unist.ac.kr Equipment location : UNIST 108동 B101호	예약하기
Cryogenic Probe Station | 극저온탐침측정기 / CRX-4K 황은정 052-217-4192 hej9204@unist.ac.kr Equipment location : 108동 B104호(Bldg.108, Room B104)	분석의뢰 예약하기
Ellipsometer | 박막 두께 측정기 / Elli-SE-UaM8 김보성 052-217-4191 mbosing@unist.ac.kr Equipment location : 108동 B101호 (Bldg. 108, Room B101)	분석의뢰 예약하기
Hitachi NX2000 FIB | 이온집속빔 / NX2000 김민재 052-217-4064 mjkim@unist.ac.kr Equipment location : 108동 102호	예약하기
Inspection Microscope | 반도체 검사용 현미경 / DM 4000M 김민재 052-217-4064 mjkim@unist.ac.kr Equipment location : 108동 B101호 (Bldg. 108, Room B101)	분석의뢰 예약하기
Measurement Microscope | 측정용 현미경 / Axio Scope A1 김민재 052-217-4064 mjkim@unist.ac.kr Equipment location : 108동 B101호 (Bldg. 108, Room B101)	분석의뢰 예약하기
Optical Surface Profiler (비접촉식 표면 및 단차 측정기기) | Optical Surface Profiler (비접촉식 표면 및 단차 측정기기) / MicroXAM-800 김강오 052-217-4182 ko8809@unist.ac.kr Equipment location : 108동 B101호 (Bldg. 108, Room B101)	분석의뢰 예약하기
S-3400N Scanning Electron Microscope | 전자현미경 / S-3400N(Type Ⅱ) 김민재 052-217-4064 mjkim@unist.ac.kr Equipment location : 108동 B101호 (Bldg. 108, Room B101)	분석의뢰 예약하기
Surface profiler | 박막 단차 측정기 / P6 김강오 052-217-4182 ko8809@unist.ac.kr Equipment location : 108동 B101호 (Bldg. 108, Room B101)	분석의뢰 예약하기