2025 Normal TEM Self-user Training(2025-09-09,10)

안녕하세요.
시험분석지원팀 이종훈입니다.
Normal TEM(JEM-2100) 자율사용자 교육 관련 사항을 아래와 같이 안내드립니다.

1. 교육 신청 시 주의사항

• 랩원에게 교육받은 경우: 메일로 권한 변경 요청 시 교육자(랩원)를 참조하여 보내주시기 바랍니다.
• 측정할 샘플 지참 필수: 교육 시 실제 측정할 샘플을 반드시 가져오시고, 측정 조건도 확인해 오셔야 합니다.
• 시편 준비: TEM 그리드 위에 시편은 분산하시거나 FIB 장비로 TEM 시편을 제작 후 가져오십시오.
• 실험복 착용 필수
• 교육시간 비용 청구와 시험 비용 청구 (지원 후 안 오셔도 분석료 청구 됩니다. No-show 청구됨)

시편 준비 방법

• 입자 시편: TEM Grid 위에 입자를 분산시켜 준비
• 판상 시편: FIB 장비로 단면 시편을 제작
• ※ 시편 미준비 시 교육 신청이 불가합니다.

2. TEM 장비 및 사용 요금 (단위: 원/시간)

장비명	해상도 (@15kV)	특징	사용료
JEM-2100 (JEOL)	0.23 nm	범용 시편	104,400(시간)

3. 교육 일정 및 구성

1. 교육 시간 선택

• 오전 (09:30 ~ 14:30)
• 오후 (15:00 ~ 18:00)
  ※ 중복 선택은 불가합니다.

1. 교육 장소

• 102동 B102호

1. 교육 후 시험

• 일정: 교육 후 바로 시험
• 장소: 각 장비실

4. 기타 안내

• 교육 참석 전 반드시 Normal-TEM 장비 매뉴얼을 다운로드 및 숙독하고 지참 바랍니다.
• 교육 중 촬영 및 녹음은 금지됩니다.
• 분석 의뢰 및 교육 일정에 따라 상시 교육 요청은 불가하오니, 이점 양해 부탁드립니다.

문의 사항이 있으시면 언제든지 연락 주시기 바랍니다.
감사합니다.
시험분석지원팀 이종훈 드림

 

2025 Normal TEM Self-user Training (September 9–10, 2025)

Dear Users,
This is Jonghoon Lee from EAST UCRF.
We would like to inform you of the following details regarding the Normal TEM (JEM-2100) self-user training.

1. Notes for Training Application

• If you have been trained by a lab member: When requesting a permission change via email, please make sure to copy (cc) the trainer (lab member).
• Sample preparation required: You must bring your actual measurement sample to the training, and please check the measurement conditions in advance.
• Specimen preparation: Samples should be dispersed on a TEM grid, or TEM lamella should be prepared using the FIB system.
• Lab coat is mandatory.
• Training fee & test fee will be charged. (Even in the case of no-show after application, analysis fee will be charged.)

Specimen Preparation Guidelines

• Particle samples: Disperse particles on a TEM grid.
• Lamella samples: Prepare cross-sectional specimens using the FIB system.
• ※ Training application will not be accepted without prepared specimens.

2. TEM Instrument and Usage Fee (KRW/hour)

Instrument	Resolution (@15kV)	Features	Fee (KRW/hour)
JEM-2100 (JEOL)	0.23 nm	General-purpose samples	104,400

3. Training Schedule and Structure

1. Training session selection
   • Morning: 09:30 – 14:30
   • Afternoon: 15:00 – 18:00
   • ※ Duplicate registration is not allowed.
2. Training venue
   • Room B102, Building 102
3. Post-training test
   • Schedule: Immediately after training
   • Venue: Each instrument room

4. Additional Information

• Before attending, please download, read, and bring the Normal-TEM instrument manual.
• Photography and recording during training are strictly prohibited.
• Due to analysis requests and training schedules, on-demand training requests cannot be accommodated. We kindly ask for your understanding.

If you have any questions, please feel free to contact us.

Thank you.
Jonghoon Lee
EAST UCRF