Analysis Lab2025 SEM Self-user Training(2025-08-05~06)
일 시 |
2025.08.05~2025.08.06(8/5~8/6)
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장 소 | Room B109, B110, B102, Bldg. 102 | 강 사 | Jong Hoon Lee |
소 속 | EAST UCRF | 진행자 / 연락처 | Jong Hoon Lee / 4171 | 첨부파일 |
2025 SEM Self-user Training(2025-08-05~06)
SEM 자율사용자 교육 안내
안녕하세요.
시험분석지원팀 이종훈입니다.
SEM(주사전자현미경) 자율사용자 교육 관련 사항을 아래와 같이 안내드립니다.
- 교육 신청 시 주의사항
- 랩원에게 교육받은 경우: 메일로 권한 변경 요청 시 교육자(랩원)를 참조하여 보내주시기 바랍니다.
- 측정할 샘플 지참 필수: 교육 시 실제 측정할 샘플을 반드시 가져오시고, 측정 조건도 확인해 오셔야 합니다.
- 시편 준비: SEM 시편 홀더(Stub)에 측정용 시편을 부착해서 가져오십시오.
- 소모품 준비: 장갑 포함 모든 소모품은 각 실험실에서 준비해오셔야 합니다.
- 실험복 착용 필수
- 교육시간 비용 청구와 시험 비용 청구 (지원 후 안 오셔도 분석료 청구 됩니다. No-show 청구됨)
시편 준비 방법
- 입자 시편: SEM 시편 홀더에 카본 테이프 부착 후 입자를 분산시켜 준비
- SEM stub (holder) 종류:
- Quanta 200 FE-SEM & Verios FE-SEM → FEI SEM Pin Stub Mount (≤25mm)
- S-4800 Cold FE-SEM, SU7000 FE-SEM, SU8220 Cold FE-SEM → Hitachi M4 SEM Sample Stub
- 판상 시편: SEM 시편 홀더보다 작게 자른 후, 카본 테이프에 부착하여 준비
※ 시편 미준비 시 교육 신청이 불가합니다.
- SEM 장비 및 사용 요금 (단위: 원/시간)
장비명 | 해상도 (@15kV) | 특징 | 사용료 |
Quanta200 FE-SEM | 2 nm | 범용 시편 | 52,200 |
S-4800 Cold FE-SEM | 1 nm | 범용 시편 | 62,600 |
SU7000 FE-SEM | 0.8 nm | 빔 안정성 우수 | 81,400 |
SU8220 Cold FE-SEM | 0.8 nm | 고해상도 이미지 | 81,400 |
Verios FE-SEM | 0.6 nm | 다양한 검출기 / 자율 이용 가능 요일: 수·목·금 | 100,000 |
- 교육 일정 및 구성
- 교육 시간 선택
- 오전 (09:30 ~ 11:30)
- 오후 (13:30 ~ 15:30 또는 16:00 ~ 18:00)
※ 중복 선택은 불가합니다.
- 교육 장소
- 102동 B102호, B109호, B110호
- 교육 후 시험
- 일정: 교육 다음 주 목요일
- 장소: 각 장비실
- 기타 안내
- 교육 참석 전 반드시 SEM 장비 매뉴얼을 다운로드 및 숙독하고 지참 바랍니다.
- 교육 중 촬영 및 녹음은 금지됩니다.
- 분석 의뢰 및 교육 일정에 따라 상시 교육 요청은 불가하오니, 이점 양해 부탁드립니다.
문의 사항이 있으시면 언제든지 연락 주시기 바랍니다.
감사합니다.
시험분석지원팀 이종훈 드림
SEM Self-User Training Notice
Dear all,
This is Jonghoon Lee from EAST UCRF.
We are pleased to provide information regarding the upcoming Scanning Electron Microscope (SEM) self-user training as outlined below.
- Important Notes for Training Registration
- If you have already been trained by a lab member, you may request access rights via email. Please make sure to CC the person who trained you in the email.
- Samples to be measured must be brought to the training session. Ensure that the measurement conditions are pre-checked.
- Samples must be mounted on an SEM sample holder (stub) in advance.
- All consumables, including gloves, must be prepared and brought from your own lab.
- Lab coat is mandatory during training.
- Training and test fees will be charged:
Please note that once you apply, you will be charged for the training and test, even if you do not attend (No-show fees will apply).
Sample Preparation Guide
- Powder/particle samples: Attach carbon tape to the SEM stub and disperse the particles on it.
- SEM stub (holder) types:
- Quanta 200 FE-SEM & Verios FE-SEM → FEI SEM Pin Stub Mount (≤25mm)
- S-4800 Cold FE-SEM, SU7000 FE-SEM, SU8220 Cold FE-SEM → Hitachi M4 SEM Sample Stub
- Flat/plate samples: Cut them smaller than the SEM stub and attach them to carbon tape.
※ Training cannot be scheduled if the sample is not properly prepared.
- SEM Equipment and Usage Fees (Unit: KRW/hour)
Equipment | Resolution (@15kV) | Features | Fee |
Quanta200 FE-SEM | 2 nm | General-purpose samples | 52,200 |
S-4800 Cold FE-SEM | 1 nm | General-purpose samples | 62,600 |
SU7000 FE-SEM | 0.8 nm | Excellent beam stability | 81,400 |
SU8220 Cold FE-SEM | 0.8 nm | High-quality imaging | 81,400 |
Verios FE-SEM | 0.6 nm | Versatile detectors (available Wed–Fri only) | 100,000 |
- Training Schedule
- Select one time slot only (no duplicates):
- Morning session: 09:30 – 11:30
- Afternoon session: 13:30 – 15:30 or 16:00 – 18:00
- Training Location
- Room B102, B109, B110, Building 102
- Test
- Date: The Thursday following your training session
- Location: Each respective SEM lab
- Additional Notes
- Please download, read, and bring the SEM user manual before attending.
- Recording or filming is strictly prohibited during the training.
- Due to ongoing analysis requests and scheduled training sessions, on-demand training cannot be accommodated. Your understanding is appreciated.
If you have any questions, feel free to contact us.
Thank you.
Jonghoon Lee, EAST UCRF
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