Equipment

Dimension_AFM | 주사탐침현미경

보유장비 관련 정보
Laboratory/Field
Model DI-3100
Maker Veeco
Technician Dong-ju Lim
Contact 052-217-4032 / djlim@unist.ac.kr
Status for Reservation 가능
Reservation Unit 0.5hr Maximum Time (per day) 2hr
Open(~ago) 5일전 Cancel (~ago) 2시간전
Address 울산광역시 울주군 언양읍 유니스트길 50, 102동 201-4
  • Description

    1. 의뢰서 접수(장비의뢰, sample request) 후 출력, 샘플과 함께 보낸다(시료보낼주소 참고)
    2. 샘플은 직경 5cm 정도의 큰 샘플도 로딩할수 있다. 샘플고정이 중요하므로 본인 샘플의 바닥면이 거칠면 매끄러운 유리같은 기판위에 샘플을 고정시켜서 보낼것. 기본적으로 보고자 하는 구조물도 잘 부착되어있어야 함.
    3. 샘플명은 가급적 숫자로 표기하기 바람. 숫자순번 표기가 싫다면 각각의 샘플이름을 의뢰서에 타이핑해주기 바랍니다.
    4. 샘플 도착하면 샘플 상태가 '분석의뢰중' 에서 '샘플접수' 로 바뀌게 됩니다. 측정기간은 측정샘플이 밀려있는 정도에 따라 다르나 샘플 접수후 넉넉하게 1주일정도 후에 결과를 받아 볼수 있습니다.
    5. 스케줄에 맞추어 샘플을 보내고 싶다거나 측정할때 함께 하고 싶다면 의뢰서 접수후 따로 메일로 스케줄 요구할것을 바랍니다.
    6. 외부 의뢰자의 경우 샘플 회수가 어려우니 가급적 샘플의 일부분만 보내줄것을 요청합니다.
    7. 스케줄에 맞추어서 샘플 보낼때도 의뢰서 출력본을 함께 보낼것

    AFM or SPM is a branch of microscopy that forms images of surfaces using a physical probe that scans the specimen. An image of the surface is obtained by mechanically moving the probe in a raster scan of the specimen line by line and recording the probe-surface interaction as a function of position.

  • Specifications

    • Resolution

    - Noise level RMS :

  • Applications

    • Surface morphology

    • Conductive AFM

    • Nano indentor