Description

○ 시료준비
- 분말 : 압분체(5㎛ 또는 325 mesh 이하)로 약 0.3g 준비(아주 소량인 경우, ZBH(Zero Background Holder)을 이용하여 측정 가능, 단 시료 양이 적으면 data 강도가 낮아짐으로 유의)​
- 판상 : 가로세로 1cm ~ 2cm 크기 / 두께 10mm 이하로 준비(윗면과 바닥 모두 이물질 없는 깨끗한 상태로 준비​, 금속시편은 표면 polishing)

X-ray diffraction is a non-destructive analytical technique which reveals information about the crystallographic structure, chemical composition, and physical properties of materials and thin films. X-ray diffraction is based on constructive interference of monochromatic X-rays and a crystalline sample.